PERBANDINGAN PENDEKATAN FUNGSI GAUSS DAN FUNGSI LORENTZ PADA DEKOMPOSISI POLA XRD OKSIDA GRAFENA DAN OKSIDA GRAFENA TEREDUKSI

Abstrak

Dekomposisi terhadap data X-ray Diffraction (XRD) menjadi penting untuk dilakukan ketika pola difraktogram yang dihasilkan pada suatu bahan memiliki karakteristik yang melebar atau tidak simetris. Dibandingkan dengan identifikasi pola XRD yang standar, identifikasi melalui dekomposisi data XRD dapat memberikan informasi yang lebih tepat. Ada beberapa parameter yang dapat diperoleh melalui dekomposisi pola XRD antara lain: posisi puncak, nilai full width at half maximum (FWHM), dan nilai intensitas dari tiap puncak. Dalam penelitian ini dilakukan dekomposisi data XRD bahan graphene oxide (GO) dan reduced graphene oxide (rGO) dengan menggunakan dua pendekatan fungsi, yakni fungsi Gauss dan fungsi Lorentz. Dekomposisi menggunakan scientific graphic software menunjukkan data XRD GO menghasilkan nilai R-square yang lebih tinggi ketika digunakan pendekatan fungsi Lorentz, sedangkan data XRD rGO menghasilkan nilai R-square yang lebih tinggi ketika digunakan pendekatan fungsi Gauss. Dekomposisi data XRD GO menghasilkan sebuah puncak dengan nilai 2θ=10,781° yang bersesuaian dengan jarak antar lapisan d=8,2 Å. Dekomposisi data XRD rGO menghasilkan empat puncak yang diindikasikan sebagai satu fase GO dan tiga fase rGO yang berbeda-beda. Masing-masing puncak 2θ pada hasil dekomposisi data rGO tersebut berkaitan dengan jarak antar lapisan tiap fase secara berurutan adalah 7,34 Å; 4,30 Å; 3,67 Å; dan 3,38 Å.

Kata kunci: pola XRD, dekomposisi, fungsi Gauss, fungsi Lorentz, oksida grafena